SEM観察 + EBSD結晶方位観察電子顕微鏡による材料組織観察・解析

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SEM観察

素材の形状、組織、特性をミクロの領域で高精度に評価できる装置を駆使し評価、分析をします。

SEM観察

  • ホチキス芯断面(SEM観察)
    ホチキス芯断面
  • めっき表面(SEM観察)
    めっき表面
  • 延性破面(SEM観察)
    延性破面
  • 脆性破面(SEM観察)
    脆性破面

SEM分析

  • 定性分析(SEM分析)
    定性分析
  • 定量分析(SEM分析)
    定量分析
  • ライン分析(SEM分析)
    ライン分析
  • 元素マッピング(面分析)(SEM分析)
    元素マッピング(面分析)

主要設備一覧リスト

  • FE-SEM(EDS,EBSD検出器付き,高倍率での観察が可能)icon-triangle
  • タングステンSEM(EDS抽出器付き,電子を用いてより小さなものを観察)icon-triangle
  • 蒸着装置(物質を科加熱した蒸気を基盤の表面に付着させ薄膜を形成)icon-triangle
  • イオンミリング(試料の材質に影響を与えずに表面を削り取る加工)icon-triangle
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EBSD結晶方位観察、解析

EBSD法は試料の持つ結晶構造を基に連続的に取り込んだパターンの
結晶方位を算出することにより、⁩試料のミクロな組織等を調べようとする手法です。

EBSD分析

  • EBSDの発生(EBSD分析)
    EBSDの発生
  • IPF Map(EBSD分析)
    IPF Map
  • GS Map(EBSD分析)
    GS Map
  • IQ Map(EBSD分析)
    IQ Map

主要設備一覧リスト

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